La "SEM" (Scanning Electron Microscope) est une technique de microscopie qui permet d'obtenir des images de haute résolution de la surface d'un échantillon en utilisant un faisceau d'électrons au lieu de la lumière.
La SEM fonctionne en envoyant un faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon, ce qui provoque la libération d'électrons secondaires et de rayons X. Ces signaux sont ensuite détectés et utilisés pour créer une image en trois dimensions de la surface de l'échantillon.
La SEM peut être utilisée pour observer une grande variété d'échantillons, allant des échantillons biologiques aux matériaux métalliques. Elle est particulièrement utile pour l'observation de la topographie de la surface et des structures fines, avec une résolution allant jusqu'à quelques nanomètres.
En résumé, la SEM est une technique de microscopie de haute résolution qui permet d'obtenir des images en trois dimensions de la surface d'un échantillon à l'aide d'un faisceau d'électrons. Elle est largement utilisée dans les domaines de la recherche en sciences des matériaux, la biologie et l'ingénierie.
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